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涂层测厚仪 LH-200J
    发布时间: 2019-06-10 14:06    
涂层测厚仪 LH-200J
技术规格
  • 测定方式:涡流式
  • 测定对象:非磁性金属上的绝缘涂镀层
  • 测定范围:0~800um
  • 测定精度:50um以下时±1µm, 50µm以上时 ±3%
  • 分辨率:  100um以下时0.1um,100um以上时1um
  • 统计功能:测定次数、平均值、标准偏差、最大值、最小值
  • 数据输出:RS-232C
  • 电源:    AC220V,或主机5#电池6个,打印机5#电池4个
  • 尺寸重量:120(W)*250(D)*55(H)mm,1.0Kg
  • 标准配件:标准片、铝基体、电池、电源适配器、探头曲面适配器、打印纸、便携包
  • 选配件:  L型探头、软件、RS-232C电缆线